X射線晶體分析儀是研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器，主要應用于單晶定向、檢驗缺陷、測定點陣參數(shù)、測定殘余應力、研究板材、棒材的結構，研究未知物質的結構和單晶位錯等。

　　

　　X射線晶體分析儀主要特點：

　　

　　1.冷卻裝置：自帶制冷系統(tǒng)，無需外接水循環(huán)，并自動控制水溫及顯示X光管溫度。

　　

　　2.外射線計量不大于2.5μSv/h

　　

　　3.X光管：額定功率2KW(銅靶)

　　

　　4.定時：單片機自動定時，定時時間任意選擇。

　　

　　X射線晶體分析儀使用條件

　　

　　海拔不超過一千米，環(huán)境+10℃～40℃。海拔超過一千米時，環(huán)境溫度>40℃時，可按一般電氣標準降低使用功率。

　　

　　X射線晶體分析儀按下列程序進行：

　　

　　1．打開冷卻水，繼電器觸點K；即接通。

　　

　　2．接通外電源。

　　

　　3．按低壓按鈕SB3，交流接觸器KM1接通，即其觸點KM1—l，KM1－2接通。

　　

　　4．預熱3分鐘后按下高壓按鈕SB4。S表示管流零位開關及過負荷開關，正常情況下應接通，故交流接觸器KMn－l，KMn－2接通。

　　

　　5．根據X射線管的額定功率確定管壓和管流。調整管壓系通過調壓器改變高壓變壓器的一次電壓來實現(xiàn)。經過由二極管V1，V2及電容C1，C2組成的倍壓全波整流線路將高壓加到X射線管上。高壓值由電壓表讀出。通過燈絲電位器R可調節(jié)管流，其數(shù)值由電流表讀出。

　　

　　關閉的過程與起動的過程相反，即先將管流、管壓降至zui小值，再切斷高壓，切斷低壓電及外電源，經歷15min后關閉冷卻水。

　　

　　使用X射線儀時必須注意安全，防止人身的任何部位受到X射線的直接照射及散射，防止觸及高壓部件及線路，并使工作室有經常的良好通風。